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射频连接器中PIM的常见问题

发布日期:2019-11-23   作者:小天   来源:www.twl-link.cn   编辑:天科乐   访问量:421

小天最新发现很多客户都在咨询有关pim的的问题,小天以前就在射频连接器系列中发布过PIM的相关问题总结,现在小天又整理了一些以下PIM的小问题。大家如有需要可以先mark哟。

PIM的典型原因是什么?

在射频组件(天线,电缆,滤波器等)中,通常有三个原因:

射频路径中的机械结点不良

使用具有一定滞后性的材料(例如,不锈钢)制成的RF组件

射频路径内受污染的表面或触点。示例可能包括助焊剂(可能会吸引其他污染物)和加工过程中的金属颗粒。在集成基站中,高功率放大器和接收器滤波器之间的任何无源组件中都会产生大量的无源IM。被动IM也可能在塔上生成(生锈的螺栓噪音),或者在发射天线的直接波束中由附近的金属物体生成。

PIM是否随功率水平而变化?

是。然而,所产生的PIM功率电平与母载波功率电平之间的关系并不总是那么直接。

在端接宽带终端的简单宽带设备中,IM3响应通常在载波功率电平每增加1 dB(假设载波功率相等)时大约增加3 dB。但是,有许多因素倾向于不利于这种友好,简单的关系。这些包括:

n * F1/m * F2处的高回波损耗值

与铁氧体器件相关的磁滞曲线上的极端斜率变化

机电结点接近击穿电位时的非线性行为

当每个IM源的阻抗随入射功率水平而变化时,多个IM源之间的相互作用

通常,随着发射机功率的增加,PIM在整个系统性能上的重要性日益受到关注。随着TDMA系统填充可用的频率和时间信道时隙,或者随着CDMA系统增加前向功率电平以增加容量,PIM电平通常会增加。

PIM是否会随时间变化?

可能:通常发现两种类型的PIM。第一类具有爆发性质,通常与暴露于高射频功率水平的不良机械结点的周期性击穿有关。使用这种类型的PIMIM将显示为短时(少于1秒)的宽带,类似噪声的能量。在某些设备和系统上,已经以23秒到几小时的随机间隔测量了这些突发。

PIM生成的第二种类型是更稳定的状态,并且本质上是连贯的。RF导体内以及RF接口周围的RF加热会导致触点完整性发生微小变化。结果是PIM级别随时间变化。一个典型的例子是通过测量电缆组件的PIM来发现,该电缆组件结构不良或受到机械应力。起初,电缆组件的PIM性能可能看起来相当不错,但随着组件的升温而降低。足够有趣的是,发现相反的情况发生了。电缆组件起初很差,但是由于RF加热导致机械接口扩展(和压缩),所以PIM性能随时间提高。

考虑一个可操作且已部署的基站。风,雨和太阳引起的热循环都在起作用,以不断给天线,电缆组件以及与防护罩的连接之间的机械接口施加压力。随着太阳升起并加热射频连接。如果电缆,连接器和天线工作不正常,则PIM级别可能会上升(或下降)。结果只能在一天中的某些时间提高IM的级别。

PIM是否非常频繁?

这取决于。一种假设是,单个IM源位于单个点(在空间上不分布)并且在阻抗上与入射传输线匹配(或激励RF能量源),各向同性地生成了频率独立的IM。这是天线理论中RF的经典点源的类似物。

鉴于存在PIM的这一点源(至少在理论上是这样),可以将实际的RF设备建模为由多个PIM源组成。这些源产生与父RF载波具有相位关系的IM。一旦在设备内的每个点源处生成了PIMPIM信号本身就可以矢量组合(相长或相消)以产生复合PIM响应。PIM源之间的相位关系将取决于它们的物理间隔,RF必须在这些源之间传播的电介质以及母载波的频率。

考虑到所有现实世界中的设备都具有不止一个PIM来源,因此该设备很可能具有与频率相关的PIM响应。然而,如果设备很小,或者与测试中的设备相比,如果感兴趣的带宽相对较小,或者如果设备由单个大型IM源控制,则测得的频率响应可能与频率无关。

天科乐在射频连接器生产制造上都追求着高可靠性和高品质,为了达到客户对产品要求的高性能,低损耗要求,天科乐人始终不渝坚持着对研发射频连接的工匠精神。


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