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有关N型射频连接器SEM

发布日期:2018-12-03   作者:   来源:   编辑:   访问量:129

N射频连接器SEM的时候,首先要注意它是一个“带内指标”,与spurious emission区分开来,后者在广义上是包含了SEM的,但是着重看的其实是发射机工作频段之外的频谱泄漏,其引入也更多的是从EMC(电磁兼容)的角度。

SEM是提供一个“频谱模版”,然后在测量发射机带内频谱泄漏的时候,看有没有超出模版限值的点。可以说它与ACLR有关系,但是又不相同:ACLR是考虑泄漏到邻近信道中的平均功率,所以它以信道带宽为测量带宽,它体现的是发射机在邻近信道内的“噪声底”;SEM反映的是以较小的测量带宽(往往100kHz1MHz)捕捉在邻近频段内的超标点,体现的是“以噪声底为基础的杂散发射”。

如果用频谱仪扫描SEM,可以看到邻信道上的杂散点会普遍的高出ACLR均值,所以如果ACLR指标本身没有余量,SEM就很容易超标。反之SEM超标并不一定意味着ACLR不良,有一种常见的现象就是有LO的杂散或者某个时钟与LO调制分量(往往带宽很窄,类似点频)串入发射机链路,这时候即便ACLR很好,SEM也可能超标。


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