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常用PCB连接器FD法损耗测试

发布日期:2019-01-09   作者:   来源:   编辑:   访问量:283

高速互联链路信号传输速率的不断提高,作为器件和信号传输的载体,印制PCB连接器电路板的信号完整性对通信系统的电气性能有着至关重要的影响。尤其是10G25G+产品的大规模商用,对PCB连接器传输线插入损耗(Insertion Loss)指标的监控是高速PCB研发和量产过程中管控的重要手段,不同高速产品,客户对信号损耗会有不同的要求


FD法(Frequency Domain Method)是IPC认可的五种损耗测试方法之一,其基本原理是选用VNA测试传输线的S参数,直接读取插入损耗值。测试时,因夹具会对传输线损耗結果导致影响,须要对系统误差进行校对。依据测量要求及和精度规定,最常见校对方式为TRLTRL采用12项误差模型,根据在PCB板件上设计并各自测试ThruReflectLine三类校准件,可获得12个方程,求解12个未知量,运用校准算法将参照面移动到夹具末端(去嵌入)。

理论上,TRL可以除去随意结构夹具的影响,获得完整的S参数,因而损耗测试精度极高。但此方式校准操作复杂,检测效率低,同时须要额外的空间设计校准件,对校准件和待测件连接器、材料等一致性要求很高,规定反射基本上相同,因此当今多用以实验室研发。

深圳市天科乐通讯科技有限公司是一家专注12年射频连接器制造,具备生产40GHZ/65GHZ射频测试级别线缆及军工级别产品的能力得到5家世界500强企业及25家中国100强企业和160家全球客户选择,每年保持35%增长。PCB连接器作为未来5G通讯建设用连接器,是天科乐的众多产品生产制造核心,在对产品高质量的追求是天科乐人对客户的保证。

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