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射频连接器之射频同轴探头和引脚探究

发布日期:2019-07-01   作者:小天   来源:www.twl-link.cn   编辑:天科乐   访问量:201

什么是射频同轴探头?

RF应用中,传输线通常是连接到电路板和电路板内的微带的同轴电缆。一个RF同轴探针是在电子电路中与电子测试设备中使用的射频(RF)信号的测量的测量装置作为硅晶片的发现,模具,和开放的微芯片。RF同轴探头还用于射频连接器组件中的窄间距或高密度RF互连应用。

20世纪80年代开发射频探头之前,没有方便的方法来测试单片微波集成电路(MMIC)器件而无需安装或粘接,这通常会损坏电路的完整性,导致系统干扰或减少电力负荷。第一代射频探头使用共面陶瓷馈电,覆盖高达18 GHzRF探针的发展导致RF同轴探针具有弹簧加载的内导体和外导体,其用于现代通信电子设备中。如今,射频同轴探头仍然可用于测试射频开关,印刷电路板中的射频迹线,终端和其他射频元件。60-80 GHz毫米波波段的消费产品包括用于汽车雷达系统。WiGig标准测试和合规性,无线HDMI和高性能LAN


为什么需要探头?

由于被测设备或DUT的敏感且通常是微妙的性质和组成,RF电路测量是棘手的。当频率对于可用的测试设备来说太高而无法测量RF能量时,或者当需要测量对电气环境中的微小变化敏感的电路而不破坏频率或幅度时,通常会出现对可靠RF测量的担忧。

该解决方案是一种测量探头,在使用高阻抗探头的情况下尽可能少地中断来自电路的能量,其中可以包括放大器以平衡从电路利用的能量,对于RF电路系统测试,匹配探头阻抗与测试设备对于有效的功率传输至关重要,随着频率的增加和容差变得越来越严格,这变得越来越具有挑战 RF测试中,基于考虑要接触的测试点,频率或数据速率,探头安装可用空间以及环境条件,可提供各种类型的RF测试探针。在不久的将来,RF探头将需要具有探测较小焊盘的设计能力,能够探测多个通道并具有测量范围容量,同时包括多个毫米波,RF,逻辑和功率通道。

重要探针参数

在考虑高频测试时,高频产品组件需要复杂的测试设备,可能包括矢量网络分析仪(VNA),晶圆探针系统,高频探头,半刚性或柔性同轴射频电缆和校准基板。也许测量系统最关键的部分是必须与DUT物理连接的探头。可靠的射频探头应该具有阻抗可重复性,并且不会因其特性(通常为50欧姆)阻抗而降低,并且在重复插入后配对连接器上没有可见或物理磨损。

频率匹配

根据电路的应用,建议使用高达工作频率的探头; 一些探头设计用于支持高达110 GHz的频率。尽管高阻抗探头,差分探头和双信号探头(SGS)可用于高频测试,但大多数RF探头的阻抗为50欧姆。

组态

为了探测电路,信号通过传输线发送到DUTRF探头需要至少两个导体,一个信号和一个接地,以及这些导体的配置方式决定了测试电路所需的探头类型。配置包括GS(地和信号),GSG(地,信号,地)和GSSG(地,信号,信号,地)。最常见的RF探头配置类型是GSG,它类似于共面波导。

探针间距

探针间距是探针尖端与其中心之间的距离。典型值为150/250微米,但是501000微米的范围是可能的,然而,较大的探针间距对于毫米波频率是不实用的。

接地

着陆是探针尖端与晶片,元件或印刷电路板表面接触时的运动,其中探针施加足够的力来测量DUT,但没有足够的力来损坏DUT的表面。

探针台

探针台设计用于将RF探针定位在硅晶片上,从而可以在晶片适应单个芯片之前或之后进行从基本连续性或隔离检查到微电路的全功能测试的测试。

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