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常用PCB连接器Delta L法损耗测试

发布日期:2019-01-10   作者:   来源:   编辑:   访问量:114

PCB连接器Delta L法损耗测试是Intel提出,如今已大批运用于服务器产品量产测试的方法,是SET2DIL方法的替代。

Delta L法设计二根不同长短的传输线,传输线通过过孔(Via)、焊盘(Pad)等连接至测试探针或SMA,选用VNA测试长短线的插损值,其中,结构A的插损值ILA = ILX1\#+ ILVias,结构B的插损值ILB = ILX2\#+ ILVias。


在得到长短线的插损后,先进行拟合运算,清除多重反射的影响,再马上做差值操作,继而取得单位长度传输线的插损值:

IL = (ILA-ILB) / (X1-X2)。为弱化测试系统的的不匹配效应及多重反射对插损结果的影响,Delta L法对长度线的长度有严格要求,通常地,长短线区别需超出7.5 厘米,从而多重反射的影响最小化。

Delta L对校准没有规范,都可以不做SOLT等校准即可进行测试,且可有效性清除过孔等夹具效应对测试结果的影响,操作简便、测试精度高,因此运用逐渐广泛。

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