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常用PCB连接器SET2DIL法损耗测试

发布日期:2019-01-10   作者:   来源:   编辑:   访问量:50

PCB连接器线路板单端TDR差分插入损耗法(Single-Ended TDR to Differential Insertion Loss,简称SET2DIL)是Intel最开始开发设计的同轴电缆损耗测试方法,也是IPC规定的损耗测试方法之一。


该方法将差分对末端短接,采用两边口的TDR仪器简化测量,利用单端线路测量差分损耗。理论上,损耗属于频域范畴,具备极强的频率相关性,在SET2DIL中,假定差分对完全对称,则有: S21=S43S41=S23,因而SDD21=S21-S41Intel的算法通过测试时域信号响应参数,根据傅里叶变换成频域数值,进而获得插损结果,相等于TDD21=T21-T41,而在时域中可通过波形处理得到T21T41。因而,测试除T21T41即可计算出SDD21,即插入损耗值。

SET2DIL方法的典型性测量频率范畴为2 GHz ~ 12 GHz,测量准确度主要受测试电缆的时延不一致、过孔及被测件阻抗不匹配等的影响,其优势取决于不用采用价格昂贵的4端口VNA以及校准件,被测件的传输线的长度仅为VNA方法的一部分,校准件结构简易,校准用时也大幅度降低,适合用作PCB生产制造的大批量测试。

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