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膜厚测试仪详细说明

发布日期:2017-06-16

型号XRF-2000是用于镀层厚度测量仪器。可以检测到在同一时间的5个不同的镀敷金属层的厚度,精度可以达到0.01微英寸。天科乐使用此仪器控制镀层质量金、银、镍、锡以及三元合金等应用到RF连接器和组件精确。



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